| 적용공정 | 특징 | 프로세스명 |
|---|---|---|
| 내층동·회로형성 전처리 | 동 조화(粗化)처리 프로세스 | NBSⅡ |
| 동 박막화 처리 | 하프에칭 | HE3 |
| Direct Laser 전처리 | 황산·과수계 프로세스 | NBDL |
| Direct Laser 후처리 | 황산·과수계 프로세스 | SPDL |
| 디스미어 무전해 동(PTH) | 저조도·고밀착 | FEED |
| DFR전처리 | 저조도 프로세스 | NA(개발중) |
| 동 조화(粗化)처리 프로세스 | NBSⅡ | |
| 황산동도금 전처리 | 산성클리너 | PB-280, PB-281 |
| Via 황산동도금 | 필도금 | CU-BRITE VF8 |
| Via, Through Hole 황산동도금 | 필도금 | CU-BRITE VLX |
| 필도금 | CU-BRITE VR2 | |
| 필도금 | CU-BRITE TF8 | |
| 일반 황산동도금 | Conformal 도금 | CU-BRITE 31 |
| DFR박리 | 비가성계 프로세스 | RS-083, RS-091 |
| SAP 회로형성 | 무전해 동 선택 에칭 | NEZARK SAC7, SAC9 |
| MSAP 회로형성 | Space부 선택 에칭 | FE-880 |
| 파라듐 잔사제거 | 시안 Free·파라듐 제거 | FINELISE |
| 귀금속도금 | ENEPIG·ENIG | SKYLITE |
| 적용공정 | 특징 | 프로세스명 |
|---|---|---|
| 내층동·회로형성 전처리 | 동 조화(粗化)처리 프로세스 | NBSⅡ |
| 동 박막화 처리 | 하프에칭 | HE3 |
| 디스미어·잔막제거·산화막제거 | 고범용성 프로세스 | LIZARTRON |
| 수평 무전해 프로세스 | ||
| 황산동도금 전처리 | 산성클리너 | PB-280, PB-281 |
| 일반 황산동도금 | Conformal 도금 | CU-BRITE 31 |
| Via충전 황산동도금 | 필도금 | CU-BRITE VLX |
| 귀금속도금 | Ni-Au(전해), Ni-Au(무전해) | SKYLITE |
| 적용공정 | 특징 | 프로세스명 |
|---|---|---|
| 무전해 니켈seed층 형성 | 폴리이미드용 고밀착 프로세스 | ELFSEED |
| 특수소재 무전해 도금 | COP및 그 외 소재에 적용 | AISL |
| Pd-Sn계 다이렉트 플레이팅 | 폴리이미드 도전화 처리에 적용 | LIZARTRON DPS |
| 패턴용 황산동도금 | 패턴상부가 평탄한 형태 | CU-BRITE RF2 |
| 판넬용 황산동도금 | 저피막응력, R to R등 Seed도금에 최적 | CU-BRITE TH-RⅢ |
| 정면(整面)처리 | DFR전처리, 금도금 전처리 | SA, SI |
| 귀금속도금 | Ni-Au(전해), Ni-Au(무전해) | SKYLITE |
| Metallizing 2층 CCL용 seed층 제거 | NI-Cr Seed층 잔사제거 프로세스 | SEEDLON |
| CU POST 형성 | 고전류 POST 형성 프로세스 | CU-BRITE BU3 |
| RDL 형성 | Interposer회로 형성 | RDP |